為進一步優化資源配置，提高儀器設備利用效率，推動大型儀器設備開放共享，科教實踐與材料分析創新中心與先進潤滑與密封材料研究中心簽訂了大型儀器設備共享協議，第一批3台套設備（XPS、XRD、SPM）已納入大型儀器共享管理平台（http://smarc.nwpu.blogesgpole.com/vue/xgd/），將於2020年10月12日8：00開放預約測試。設備信息及開放測試時間如下：
設備名稱 |
X射線光電子能譜儀（XPS） |
X射線衍射儀（XRD） |
掃描探針顯微鏡（SPM） |
設備型號 |
PHI 5000 VersaProbe III |
Bruker D8 ADVANCE |
MFP 3D Origin+ |
設備用途 |
元素和其價態的定性、定量分析，表麵元素的化學成像及深度剖析 |
物相分析及晶體結構測定 |
納米尺度三維成像、表麵電勢，導電性、納米力學 |
技術參數 |
Al Kα微聚焦和掃描X射線源，Mg、Zr雙陽極靶； 最小X射線探頭尺寸：≤10 μm； 分析麵積：Ø10 μm〜1400 μm×1400 μm； 能量分辨率< 0.50 eV (Ag 3d 5/2)； GCIB能量範圍：1 keV〜20 keV。 |
焦斑尺寸：0.4×12 mm； 2θ轉動範圍：0〜120°； 測角儀半徑：240 mm； 角度重現性：0.0001。 |
掃描範圍：120 μm×120 μm×15 μm； 閉環傳感器噪音XY軸<0.6 nm，Z軸<0.25 nm； 高度噪音分辨率<50 pm，激光探測器噪音<15 pm。 |
樣品要求 |
樣品無磁性及放射性，測試中無腐蝕性及揮發性； 片狀樣品應標明測試麵，麵積小於2cm×2cm； 塊狀樣表麵光滑，上下兩麵平行，麵積小於2cm×2cm，高度小於8mm。 |
薄片樣品表麵光滑，麵積大於12mm×12mm，小於20mm×20mm； 塊狀樣麵積大於12mm×12mm，高度小於4mm。 |
固體樣品，尺寸小於20mm×20mm×10mm |
測試地點 |
研究生東館201室 |
研究生東館203室 |
研究生東館213室 |
開放時間 |
每周三、四、五 8:00-12:00、14:00-17:30 |
每周一、二 8:00-12:00、14:00-17:30 |
每周一、二 8:00-12:00、14:00-17:30 |
收費標準 |
XPS全譜加精細譜：300元/樣 深度剖析測試：1500元/樣 |
300元/小時 |
普通形貌：100元/h 表麵電勢、導電性、力學和摩擦：200元/h 備注：探針自備或中心提供（費用另計） |
聯係方式 |
張芬18706890127 |
張芬18706890127 |
侯琴15829738390 |
預約方式 |
登錄科教實踐與材料分析創新中心大型儀器設備管理平台線上預約，網址：http://smarc.nwpu.blogesgpole.com/vue/xgd/ |
